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MEKA-B2 Before-Wave AOI
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MEKA-B2 炉前自动光学检查机(Before-Wave AOI)

B系列炉前AOI,高性价比的炉前大视野AOI解决方案,支持拼板模式,测试最长可达1m。标配物料支持AI编程,物料种类持续丰富中。相机分辨率20MP/25MP/65MP,像素分辨率可调,搭载平面光+四侧侧光照明系统。

核心参数

型号MEKA-B2
最大PCB尺寸(在线AOI)长400mm×宽266mm(75μm,正常模式)/ 长1000mm×宽266mm(75μm,拼板模式)
相机像素20MP / 25MP / 65MP
像素分辨率可调
照明系统平面光+四侧侧光
PCBA传送高度可调节
标配功能内置SPC、内置复判软件、拼板模式
可选功能读码器、维修站电脑、离线编程系统、MES对接、SPC+、AI编程、AI复判

更多参数请查看下方详细介绍

应用场景

DIP波峰焊前元器件插装检测
插件元器件极性/缺失/偏移检测
拼板模式长板检测(最长1m)
通孔元器件焊前质量确认
DIP产线波峰焊前最后一道把关

产品详细介绍

产品概述

MEKA-B2 是华技达自主研发的 炉前自动光学检查机(Before-Wave AOI),属于B系列。提供高性价比的炉前大视野AOI解决方案,支持拼板模式,测试最长可达1米。

核心优势

大视野高性价比

  • 炉前大视野AOI解决方案
  • 支持拼板模式,最长测试1m
  • 高性价比,适合各种产线配置

灵活的相机配置

  • 20MP / 25MP / 65MP 可选
  • 像素分辨率可调
  • 平面光+四侧侧光照明系统

AI智能编程

  • 标配物料支持AI编程
  • 物料种类持续丰富中
  • 降低编程门槛和时间

紧凑轻便

  • 设备重量仅 约200KG
  • 深度和高度可调节
  • 适合空间受限的产线